Echipamente
nanoscan
Caracterizare - Microscopie electronica de baleiaj [SEM] (conventionala si cu emisie in camp) si Spectroscopie de raze X cu disp
Caracterizare - Microscopie electronica de baleiaj [SEM] (conventionala si cu emisie in camp) si Spectroscopie de raze X cu disp
NANOMORPH
Untitled
MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI- PHILIPS Olanda – ECOMET
MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI- PHILIPS Olanda – ECOMET
04_Microscopia electronică_site.pptx
STUDIU DE MICROSCOPIE A SUPRAFEŢELOR BRACKET-URILOR METALICE ŞI CERAMICE
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech
Microscop electronic de baleiaj APREO SEM
Microscop electronic de baleiaj cu emisie de camp (FESEM) Model Carl Zeiss Auriga Sistem cu fascicul focalizat de ioni (FIB) Mo
Microscop electronic - Wikipedia
Microscop electronic de baleiaj APREO SEM
DEPARTAMENT POLIMERI - ICECHIM
DEPARTAMENT POLIMERI - ICECHIM
TEZĂ DE DOCTORAT
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech
04_Microscopia electronică_site.pptx
Microscop electronic de baleiaj cu dispozitiv EDAX – HITACHI S2600N - Micronanotech
MICROSCOP ELECTRONIC CU BALEIAJ Tip Quanta Inspect F, producator FEI- PHILIPS Olanda – ECOMET
Microscopia electronica
04_Microscopia electronică_site.pptx
